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samsara20071214铁杆木虫 (正式写手)
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Cp-D测试
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采用Agilent 4294A测量压电陶瓷的性能时采用Cp-D模式或者Cs-D模式，请问，并联电容Cp和串联电容Cs与自由电容CT是什么关系？ 是否为同一个参数？ 另外D和介电损耗tanδ有很什么关系？ |
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samsara20071214
铁杆木虫 (正式写手)
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3楼2011-08-16 13:40:07
diwunju
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diwunju
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4楼2011-08-17 10:28:43
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