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谈谈薄膜材料的表征手段，欢迎大家补充
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谈谈薄膜材料的表征手段，欢迎大家补充 纵观目前发表的一些文章，对薄膜材料研究比较热门。而薄膜材料的表征手段尤为关键，主要有FESEM，可以看表面形貌以及膜的厚度。AFM，表面形貌以及平整度，还可开发AFM不同功能，如王中林利用导电的探针来开发纳米发电机。XPS，主要用来分析表面元素的组成与相对含量。XRD，一般薄膜生长有一定的取向性，表现在XRD谱图上某些方向上的峰比较强，而有些方向上的峰没有出现。切片的HRTEM，可以得到更精细的结构和生长方向。UV－Vis光谱尤其适合分析LbL静电自组装膜的生长。这些是我目前在实验中用到一些表征手段，欢迎大家补充和探讨。 |
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 纳米片 |
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