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csuyj87

禁虫 (小有名气)

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kissyliu

铜虫 (初入文坛)


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Missile521(金币+1): 鼓励新虫,欢迎交流~ 2011-08-01 10:19:13
csuyj87(金币+4): 谢谢 2011-08-01 14:13:20
这个是因为你的薄膜比较薄,导电效果很好,在针尖接触的时候产生了放电,直接把针尖接触的地方导电薄膜烧了洞(在高倍显微镜下能看到),这样就肯定测不出来了!

通常这种情况的做法就是: 先把电流的量程先选择到最小,或者最大;在下降探针的时候慢点稳点的接触压实;进行测量时间要快一点,在测的时候数值会变,不太稳定,只能测到大概;多试几次偶尔能测出一个凑乎用的!

另外就是:四探针的针尖也分型号的,有测面,测点的,测棒材的!薄膜的话最好是测面的,针尖尖端是一个很小的面,这个就根据实际再选配附件了!呵呵 我们一直是用测棒材的针尖做测薄膜的实验,数据只是参考!
12楼2011-08-01 10:17:09
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juanzijiang

木虫 (小有名气)

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huangzx1314(金币+1): 鼓励交流~~ 2011-07-19 17:16:49
四探针是测试半导体材料的,貌似不需要上电极的。
2楼2011-07-19 17:11:27
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juanzijiang

木虫 (小有名气)

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abooo(金币+1): 感谢交流! 2011-07-19 18:35:56
电极片的电阻率不在四探针方法测试范围内。
3楼2011-07-19 17:12:35
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huangzx1314

禁虫 (知名作家)

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abooo(金币+1): 谢谢交流! 2011-07-19 18:35:41
csuyj87(金币+3): 谢谢,我可以拿什么来试一下呢? 2011-07-20 07:44:58
好像楼上说的不对吧,四探针方法是用来测量电阻率的,对于是否是半导体应该没有关系吧~~
是不是你的电极片的电阻太小了~~你换个电阻大的测试一下,看看是不是坏了呢~~

4楼2011-07-19 17:21:31
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