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题目： Structural characteristics of SiGe/Si materials investigated by raman spectroscopy 作者: ChangChun Chen, BenHai Yu, Jiangfeng Liu and QiRun Dai 期刊： Metals and Materials International 卷期： Volume 11, Number 4, 279-283, DOI: 10.1007/BF03027329 链接： http://www.lw20.com/20110408107563546.html [ Last edited by lin557668281 on 2011-7-7 at 17:58 ] |
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