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yc_1986

新虫 (小有名气)

[求助] SEM在单个颗粒上能反映出高低起伏么?谢谢

可以的话,那是为什么呢?谢谢

[ Last edited by 13500558820 on 2011-6-21 at 10:32 ]
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fengleba

银虫 (著名写手)

样品是单分散吗?什么样的样品呢?可是尝试一下AFM。它能够反映高低起伏状态。
招聘地点:沈阳。http://www.penhuiji88.com/cn
2楼2011-06-21 10:38:13
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COXEM

捐助贵宾 (正式写手)

北京驰奔仪器有限公司- G.M &


【答案】应助回帖

★ ★
13500558820(金币+2): 复合材料版六月份应助活动奖励,感谢您的参与和支持 2011-06-26 08:06:13
yc_1986(金币+2): 很好很仔细,十分感谢您的回复 2011-06-26 08:16:39
可以,这个和TEM有明显差别,TEM一般只体现颗粒投影的形态或者形状,而SEM不光表征颗粒轮廓形态,表面形貌更是其特长。这是首先其信号成像原理决定的,电子束与样品相互作用产生的二次电子或者背散射电子等视频信号,其产额与相应像素处的表面倾斜角度有固定函数关系,角度越大产额越高,所以由所有像素组成的图像就具备表征和样品起伏一级相似的形貌;其次扫描电镜超大景深,如果是球型颗粒,景深一般可以达到球径的尺度以上,因此颗粒的表面形貌更加逼真。
就像在实际当中,我们要认识物体的形状,光从一个角度去看,很难下确切定义,往往变化一些角度来视察,从而详细描述了物体形状或者形貌。
扫描电镜也一样,如果配合立体对技术,3D电影相似的技术来拟合视频或者一张图像,那么表面的凹凸就一目了然。
3楼2011-06-25 22:36:26
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