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明光木虫 (著名写手)
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请教纳米结构密度表征的问题
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在硅上制备了非晶硅结构,其尺寸为15nm x 15nm x 5nm(长x宽x高),现打算采用相关设备测量其密度。 有人说可以用微区拉曼,从所测晶格常数的微小变化,可以推知凸起结构的疏松程度;请问是不是这样的呢? 请问什么样设备或方法可以直接测密度呢? 谢谢! |
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