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高精度全自动化粉未衍射仪可从事物相定性、定量分析、晶胞参数的测定、晶化度分析、衍射数据指标化和纳米材料的结构分析。现代衍射仪自动化程度高，计算机中存有全套 PDF卡片，自动收集衍射数据（包括连续和步进两种 ），并能自动检索PDF卡片库给出的结果。数据或图谱可提供多种方式的输出结果，并可直接应用于发表论文。 衍射仪的主要指标项目包括：最大功率， 稳定度， 电压，电流， 扫描速度，扫描角度。 X射线多晶衍射是研究材料结构及对其结构表征的权威方法。 对不同的材料，从多晶衍射谱中可以得到其特征的谱图，包括峰位，峰强比，峰形及半峰宽等影响因素。各个因素同材料的性能关系密切。衍射峰位置及2θ分布和峰的强度序列决定于物相的组成， 峰位的偏移和材料的微应力相关，峰强比之间的变化反映了物相中各个衍射面的择优取向，峰形和半峰宽的差别涉及到晶体的晶粒大小。对于纳米材料，晶粒的大小是其特性的重要指标， 同时晶粒大小对材料的实际性能影响很大。 利用X射线多晶衍射可对纳米材料进行较全面的表征，除了求算晶粒大小外，还可测定不同分散态中的纳米材料的组成和晶粒大小，微应力，择优取向等。除了通过精确的实验手段得到实验结果 ,还可通过大量的计算对数据进行拟合，从而得到材料的更多结构和性能方面的信息。 利用 X射线衍射表征纳米材料 ： 1．晶粒大小的表征：测量衍射峰的半峰宽， 通过Scherrer公式计算出晶粒大小。 2． 物相分析：半导体膜等表面生长纳米材料的研究：在单晶片或其它衬低上利用各种工艺长出不同的物相。 3．材料结构的全面表征：物相、晶粒大小、微应力等，如纳米陶瓷的结构和性能的全面表征。 X多晶衍射方法在材料开发研制及生产中的应用 X 射线多晶衍射是利用不同构象和晶型的粉末固体对X射线有其特殊的衍射方向和强度， 得到特征衍射谱。 该方法已有一个多世纪的历史， 并建立了该领域的数据库PDF卡片库， 至今已收集了包括有机、无机、合金、矿物等不同领域的十万多种物相的数据，可以有效地对常见的物相进行鉴别和分析。同时，该方法的理论发展和应用也不断深入，有大量的应用程序可用于原始数据的初处理，衍射谱的指标化，晶胞参数的计算，空间群的求取，进一步还可进行原子坐标的求取等。药物尤其是有机药物其构象复杂，同一种分子可得到不同的物相， 每一种物相在化学性质和性能方面有很大的不同， 而X射线多晶衍射是最好的判定方法。 [ Last edited by nxl5096224 on 2007-6-3 at 23:15 ] |
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3楼2006-10-10 14:00:31
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有关XRD好像有很多帖子了啊，rabbit7708整理了一个专辑 http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=322591&fpage=1 感兴趣的朋友可以下载下来看看，也可以继续讨论。 |
2楼2006-10-04 03:43:03
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