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ysuren

铁杆木虫 (正式写手)

应助: 11 (小学生)
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虫号: 282171
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性别: GG
专业: 凝聚态物性 II ：电子结构

[求助] 轧制材料的TEM观察，一定要选在RD-ND plane吗？

下面是我投SCRIPTA MATER的审稿意见中的一句
“The observation plane in TEM characterization was not mentioned in the text, from Fig. 1 it seems that the authors did not choose the proper RD-ND plane, which resulted in an incorrect description of microstructures.”

[ Last edited by ysuren on 2011-6-13 at 21:19 ]

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1楼 2011-05-23 16:37:32

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ysuren

铁杆木虫 (正式写手)

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The microstructural evolution of the SMAT Cu samples
was characterized by using a JEM-2010 transmission electron
microscope (TEM) operated at a voltage of 200 kV.
Cross-sectional thin foils for TEM observations were prepared
in the following steps: (i) electroplating a Ni layer
of 1.5 mm thick onto the treated surface of the SMAT
Cu samples; (ii) cutting a cross-sectional piece of the electroplated
sample (with a diameter of 3 mm and a thickness

Acta Materialia 54 (2006) 5281–5291
of 0.5 mm) with the treated surface in the middle; (iii)
grinding it carefully to about 30 lm thick; (iv) dimpling
and ion thinning to perforation at room temperature.