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ICP-OES测定元素时关于谱线选择及干扰问题 已有3人参与
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| ICP-OES测定杂质元素含量，每一元素有好多条谱线可选择，一般是选择强度最高的，受干扰最少的谱线作为分析线。但如果两条谱线的干扰都一样，且强度都相差不是太大时到底选那条呢？因为实验发现这两条谱线的测定结果差异很大。 |
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谱线选择和被测元素的含量,灵敏度,基体,干扰元素含量和灵敏度及波长相近程度有关. 1光谱干扰类型： a倾斜背景,背景随波长渐变，但变化是线性的，左右两点法可准确校正。在两侧等距离测定两处背景，取平均值，扣除。Offpeak矫正。对简单 或无结构背景下用。 b.简单弯曲背景。分析线处在共存元素峰一侧，渐变弯曲斜坡背景。若分析线强度低，用a扣除，误差很大。用不含待测元素溶液（基体相同）测背景，从样品中扣除 c.复杂结构及谱线重叠。由分子谱带或谱线重叠形成，自动校正往往得到错误结果 2光谱干扰的克服： a改变波长选择：如V331.071受钛锰重叠干扰，可以选择292.402。 b快速谱线自动拟合技术(FACT):FACT 是对被分析元素和干扰元素的标样分别进行测量，用所得到的谱图数据进行图形解析，从而将被分析谱线旁边的干扰谱线剥离出去。 c.干扰系数法. |
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