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[交流]
求助：测复合材料的电阻及测试标准
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我做的材料是要测量其电阻，范围从1百（10的2次方）欧姆到1亿欧姆（10的9次方），现在从1万（10的5次方）到1亿（10的10方）已用高阻计测量，想询问下，在1百（10的2次方）到1万（10的5次方）用什么方法测量，有没有相应的标准。 材料是薄层方片，80mm*80mm*2mm。 ps:材料分布不均匀，不是理想中的完全均匀 [ Last edited by sploven on 2011-4-16 at 09:30 ] |
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3楼2011-05-06 22:50:19
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yanjunqing(金币+1): 谢谢交流 2011-04-15 10:18:07
sploven(金币+1): 材料不是完全的分布均匀，不能用四探针测试仪，谢谢 2011-04-16 09:31:52
yanjunqing(金币+1): 谢谢交流 2011-04-15 10:18:07
sploven(金币+1): 材料不是完全的分布均匀，不能用四探针测试仪，谢谢 2011-04-16 09:31:52
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小电阻材料应用四探针测试仪，测试电阻范围小于十万欧姆。 http://caem.buct.edu.cn/Info.asp?ArticleID=442 RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。本仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。 测量范围: 电阻率：10^-4～10^5Ω?cm； 方块电阻：10^-3～10^6Ω； 电阻：10^-4～10^5Ω； 电导率：10^-5～10^4s/cm； 本仪器可对片状固体，薄膜，粉末（测试前需自行压片）进行电阻及电导率的测试 试验收费标准：片状固体、薄膜样品--校内20元/样；校外40元/样；粉末样品--校内30元/样；校外60元/样 |
2楼2011-04-15 09:20:28
