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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 性能应用 » 【请教】SEM
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xjajx

至尊木虫 (著名写手)
★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
金光闪闪2010(金币+2): 辛苦 2011-04-03 15:48:33
nuaajsh(MN-EPI+1): 鼓励交流 2011-04-03 16:05:56
引用回帖:
Originally posted by fengrenshi at 2011-03-31 14:27:56:
请教各位仁兄，碳纳米管长在石英基地上，照SEM之前，采取哪些措施可以是照片拍出来更好看一些？谢谢啦

感觉很多朋友对于SEM和TEM的制备以及观察很感兴趣，对于SEM和TEM，我希望下面讲的对大家有用（个人经验，如果有错误请大家直接反驳就可以）

一般来说，对于一个样品要做好的SEM照片，要考虑的因素包括以下几点：filamentcondition （灯丝状况），AAC Vol （加速电压），SS（spot size），WD（ working  distance）是否导电以及你样品自身的状况

filament condition，很多朋友在大多数时候用SEM的时候不太理会filament的状况，而我感觉开始对灯丝状态的调节是非常重要的，这对你后续的观察有很重要的作用，一般来说，在你加电压的时候，灯丝电流会增大，但会出现一个false peak，这时候你认为是灯丝电流的最大值，其实这只是一个表象，

AAC Vol （加速电压）：对于不同性质的样品，要用不同的AAC Vol，一般来说，如果你是聚合物等样品的话，AAC Vol 一般小于5kV，否则会很快破坏你的样品

SS（spot size），对于不同的性质的样品，spot size也要做出响应的改变，因为你的spot size 决定了你电子数量的多少，如果你scanned的figure太blurry，需要调小你的spot size， 反之亦然。

WD（ working  distance）值的是你样品的最高点到你电子枪的具体，这和Z值不是一样的，一般WD小于Z，

还有如果你是想看边界的形貌，最好用SE成像，也就是说二次电子成像，如果你看 成分等信息，最好用BSE（背散射电子）成像

对于focus 以及stigma等操作，那些都是最基本最简单的了，我就不具体说了，希望大家互相交流
赞一下(4人) 回复此楼
9楼2011-04-03 14:58:35
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