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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 基础研究 » 【求助】关于扫描探针显微镜测量表面静电势
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peihe2010

金虫 (正式写手)

[交流] 【求助】关于扫描探针显微镜测量表面静电势

请教大家一个问题，扫描探针测量表面静电势的区域能是一个很小的微区么，如几个纳米到几十纳米？通过相邻的表面静电势的差异是否可以估算能带弯曲的值（band bending）？请帮忙，谢谢！
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1楼 2011-02-27 10:35:37
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GrasaVampiro

专家顾问 (职业作家)
SPM分很多种！
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3楼2011-02-27 19:46:00
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8790993592楼
2011-02-27 11:11   回复  
peihe2010(金币+1): 2011-02-27 11:18:02
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