| 查看: 1822 | 回复: 0 | |||
neuzerg铁虫 (小有名气)
|
[交流]
【请教】有关用X-ray reflectivity测薄膜厚度的原理
|
|
开始用XRR测单晶硅表面的有机膜的厚度（约1纳米左右） 高手请指点，理论上是否可行？ 本人以前只接触过XRD，是不是和XRD中用thickness fringes确定纳米体系尺寸的原理一样？（即两个峰值间距与尺寸成反比？） 能详细的介绍更好，谢谢！ |
回复此楼» 猜你喜欢
请问对标matlab的开源软件octave的网站https://octave.org为什么打不开？
已经有1人回复
-
求助两种BiOBr晶体的CIF文件（卡片号为JCPDS 09-0393与JCPDS 01-1004 ）
已经有0人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有264人回复
-
哈尔滨工程大学材化学院国家级青年人才-26年硕士招生
已经有0人回复
-
求助Fe-TCPP、Zn-TCPP的CIF文件，或者CCDC号
已经有0人回复
-
河北大学-26年秋季入学申请考核制-化学博士1名
已经有0人回复
-
XPS/?λXPS
已经有0人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
找到一些相关的精华帖子，希望有用哦~
有关energy-dispersive X-ray (EDX) analysis问题的请教
已经有6人回复
- X射线应力测力仪能测薄膜涂层等得应力么
已经有8人回复
- 求问用X-ray diffraction 能定量的测定出晶体的晶格参数吗？
已经有5人回复
- The in situ X-ray diffraction 是什么样的测试？
已经有4人回复
- 【请教】如何测微米纳米量级薄膜的确切厚度
已经有7人回复
点击这里搜索更多相关资源科研从小木虫开始，人人为我，我为人人