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neuzerg铁虫 (小有名气)
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[交流]
【请教】有关用X-ray reflectivity测薄膜厚度的原理
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开始用XRR测单晶硅表面的有机膜的厚度（约1纳米左右） 高手请指点，理论上是否可行？ 本人以前只接触过XRD，是不是和XRD中用thickness fringes确定纳米体系尺寸的原理一样？（即两个峰值间距与尺寸成反比？） 能详细的介绍更好，谢谢！ |
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