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2.1作用力-距离曲线的测定 用美国DI公司生产的AFM(Nanoscope E, Digital Instruments, Santa Barbara)对样品进行作用力-距离曲线的测定。分别用NaOH和盐酸调节溶液的pH值，注入液池中，平衡30min后对电解质溶液中的ZrO2探针与ZrO2基片间的作用力进行测定。作用力数据取两次测定平均值。 2.2 AFM的样品制备 将粒径200nm的α-Al2O3用聚丙烯酸铵水溶液分散后，加入连结剂和塑化剂，水系流延制得膜片，经烧结后，用抛光膏抛光，制得平整光滑的氧化铝陶瓷基片。利用非水解溶胶-凝胶法[1]在氧化铝陶瓷基片上制备ZrO2薄膜，800℃2h煅烧后，ZrO2纳米晶经XRD测定为四方相。 2.3 ZrO2纳米晶涂层修饰的陶瓷膜制备 用非水解溶胶-凝胶法[1]对α-Al2O3制备的陶瓷微滤膜进行ZrO2纳米涂层修饰改性。采用气泡法对改性后的陶瓷微滤膜的孔径分布进行表征，平均孔径为0.32μm（陶瓷膜的尺寸为Ф30 mm×1.2mm，用10μmα-Al2O3制备支撑体，用1.5μm α-Al2O3制备约20μm厚的顶膜，ZrO2纳米修饰涂层经800℃煅烧2h，ZrO2纳米晶为四方相。）。 |
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2楼2011-01-14 20:21:31
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ringzhu(金币+5): ~~ 2011-04-12 13:50:56
ringzhu(金币+5): ~~ 2011-04-12 13:50:56
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2.1作用力-距离曲线的测定 用美国DI公司生产的AFM(Nanoscope E, Digital Instruments, Santa Barbara)对样品进行作用力-距离曲线的测定。分别用NaOH和盐酸调节溶液的pH值，注入液池中，平衡30min后对电解质溶液中的ZrO2探针与ZrO2基片间的作用力进行测定。作用力数据取两次测定平均值。 2.1 Measurement of the force-distance curve Measure the force-distance curves of the specimen using AFM produced by the American DI Company. Use NaOH and HCl to adjust the pH of the solution. The force between the ZrO2 probe and the ZrO2 base will be measured after the 30 min balancing period of the electrolyte solution. The final curve will be the average of two measurements. |
3楼2011-01-14 21:37:27
