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请帮查是否被EI/ISTP检索
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Analysis of Dynamic Test Signal for Bolt Using Empirical Mode Decomposition (EMD)，Ying Li and Dongzi Pan，2010 International Conference on E-Product E-Service and E-Entertainment 若有请提供检索号，谢谢 |
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dzipan(金币+5): 2011-02-19 22:55:42
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Accession number: 11700975 Title: Analysis of Dynamic Test Signal for Bolt Using Empirical Mode Decomposition (EMD) Authors: Ying Li1 ; Dongzi Pan2 Author affiliation: 1 Zhejiang Water Conservancy & Hydropower Coll., Hangzhou, China 2 Zhejiang Inst. of Hydraulics & Estuary, Hangzhou, China Source: 2010 International Conference on E-Product E-Service and E-Entertainment (ICEEE 2010) Publication date: 2010 Pages: 4 pp. Language: English ISBN-13: 978-1-4244-7159-1 Document type: Conference article (CA) Conference name: 2010 International Conference on E-Product E-Service and E-Entertainment (ICEEE 2010) Conference date: 7-9 Nov. 2010 Conference location: Henan, China Publisher: IEEE Place of publication: Piscataway, NJ, USA Material Identity Number: YXB0-1902-971 Abstract: Based on the improved empirical mode decomposition (EMD) algorithm, a signal processing method for dynamic testing of the bolt anchorage system is proposed. As a self-adaptive approach, EMD method can be used to decompose the local characteristics of the no-stationary and nonlinear signals into several fluctuations and trend items with different time scales step by step. Defects information of the bolt anchorage system, which gained from signal separation and diagnosis of stress wave reflection with EMD method, is obtained by getting ride of errors from actual measured signals. The conduction results, with a model test shown, demonstrate that this method is a simple and effective approach with adaptive resolution, and can get more accuracy and flexibility. Number of references: 5 Inspec controlled terms: anchors - dynamic testing - fasteners - nondestructive testing - signal processing Uncontrolled terms: dynamic test signal - improved empirical mode decomposition - bolt anchorage system - self-adaptive approach - stress wave reflection Inspec classification codes: B6140 Signal processing and detection - B0590 Materials testing - E2210 Mechanical components - E1630 Testing Treatment: Practical (PRA); Experimental (EXP) Discipline: Electrical/Electronic engineering (B); Manufacturing and production engineering (E) DOI: 10.1109/ICEEE.2010.5660614 Database: Inspec Copyright 2011, The Institution of Engineering and Technology |
3楼2011-02-18 14:18:54
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提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！ 各位小木虫论文的作者朋友们： 大家好！看到很多朋友发表SCI和ISTP检索的论文，苦于无处查询，为了给朋友们提供方便，2011年信息技术与管理科学国际学术研讨会（CITSM 2011）提供免费SCI和ISTP(现更名为CPCI-S/SSH)数 据库查询链接，若您想查询相关信息，请登录2011年信息技术与管理科学国际学术研讨会官方网站http://citsm.tjpu.edu.cn，通过链接进行查询。 第二届版面费1000元的ISTP检索会议2011年信息技术与管理科学国际学术研讨会（CITSM2011） 官方网站http://citsm.tjpu.edu.cn（教育网域名，无www） 截稿日期：2011年4月10日 投稿邮箱：citsmreg@126.com 论文集的ISBN期刊号为： 978-1-935068-54-9 CITSM2010第一届已于2010年12月成功召开，将于2011年3月ISTP检索； CITSM2011第二届会议将于2011年6月在天津工业大学召开，将于2011年9月ISTP检索。 CITSM 2011已经进入多种学术会议在线，详见官网。 提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！提供SCI和ISTP免费查询！！ |
2楼2011-02-18 13:35:34
