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匿名

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ranon

金虫 (正式写手)

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xps可以计算O和其他元素的比例,但是误差比较大。一般来说表面氧空位可能只有几个百分比,用xps就很难说明是误差还是物质的真实数据。PL谱可以发现有没有氧空位等缺陷,可用作定性比较,但很难定量分析。用raman或者红外分析下物质表面状态,也许会有发现吧。
引用回帖:
Originally posted by cnlmg at 2010-10-26 16:01:39:


我见过有人用XPS测出金属元素多个价态的含量,再计算得到氧含量,把标准化学式中的氧减去计算得到的氧,就是氧空位(和氧空穴一个概念?)。此方法是否严谨我也不太清楚

[ Last edited by ranon on 2010-10-26 at 16:23 ]
7楼2010-10-26 16:22:09
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匿名

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3楼2010-10-26 07:33:58
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cnlmg

木虫 (著名写手)

★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
第一个问题可以用高分辨透射电镜,做表面负载的一般都用这个,包覆应该也是可以的。

至于氧空穴,用XPS?
恋恋风尘,戏梦人生……
4楼2010-10-26 10:55:15
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匿名

用户注销 (著名写手)

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5楼2010-10-26 14:47:07
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