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帅博士

木虫 (正式写手)

[交流] 【讨论】关于单分子层用EDS定性和定量分析的问题

在SiO2粒子上接枝了一些单分子层的有机物质,红外几乎检测不到明显的峰(或是分不清特征峰),最近想用SEM联用的EDS来进行面扫或线扫来定性分析,因为有机物质中有特征元素P,并想用EDS的数据来断定接枝的多少,半定量分析,只要知道是否比另一个样品多或少就行。请问我这个想法是否可行?
欢迎大家提建议,谢谢。
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粘液819

木虫 (正式写手)


csuhcb2000(金币+1):欢迎交流 2010-11-12 10:45:39
几乎相同的问题,有没有可以解释的高手在啊?
今天去SEM问操作员,给我的解释说SEM-EDS只能检测3微米以上厚度的样本,单分子层无法进行SEM测试,推荐我去做TEM-EDS。
但是我样品直接做到基底表面的,刮下来就破坏了,何况只有一层,刮下来不够风吹的呢。
123
2楼2010-11-11 15:46:06
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