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【求助】这三个材料学基本问题，你都能回答上吗 已有6人参与
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比如说SiO2材料，碳进入其晶格形成固溶体，要么替位式摻杂，要么填隙式摻杂。 问题1：测XRD能知道其摻杂方式吗？比如说与纯SiO2对照 问题2：这种固溶体可以叫做Si-O-C吗？ 问题3：利用XPS对其价健检测，都会检测到什么价健，有Si-O-C，C-O健吗？ |
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2楼2010-09-25 09:14:50
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XRD如何说明是固溶体 本文来自: 小木虫论坛 http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=1501626 看一下这个吧 |
3楼2010-09-25 09:22:59
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1.由于碳和硅的原子半径不同导致晶格产生一定的畸变，从而引起XRD图谱变化，最直观的就是晶格常数的变化，可以根据这个变化判别是否掺杂，至于替换和间隙式掺杂应根据晶格常数变化量的具体情况来判别； 2.可以根据Si-O-C的晶型是否和SiO2的相同以及掺杂的量来判别是否叫Si-O-C； 3. X 射线光电子能谱法的应用 ( 1 )元素定性分析 ：各种元素都有它的特征的电子结合能，因此在能谱图中就出现特征谱线，可以根据这些谱线在能谱图中的位置来鉴定周期表中除 H 和 He 以外的所有元素。 ( 2 )元素定量分折 ：X 射线光电子能谱定量分析的依据是光电子谱线的强度(光电子蜂的面积)反映了原于的含量或相对浓度。 ( 3 )固体表面分析 ：人们早已认识到在固体表面存在有一个与团体内部的组成和性质不同的相。表面研究包括分析表面的元素组成和化学组成，原子价态，表面能态分布。 ( 4 )化合物结构签定 ：X 射线光电子能谱法对于内壳层电子结合能化学位移的精确测量，能提供化学键和电荷分布方面的信息。 |
6楼2010-09-27 08:52:50
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