应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

CyRhmU.jpeg
小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 【原创】关于四探针测半导体薄膜电阻率的问题
112/2返回列表上一页12
查看: 5381  |  回复: 10
只看楼主@他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看

roberttao2

金虫 (小有名气)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
10楼: Originally posted by bluegenes at 2022-03-10 13:49:56
四探针对样品厚度并没有限制，只是测量范围有限。对于薄膜样品，电阻率ρ=Rs*d，Rs是方阻，d是厚度

那请问方阻怎么测呢（设置）？
赞一下 回复此楼
11楼2023-05-02 02:22:38
 已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
相关版块跳转 我要订阅楼主 槟榔OE 的主题更新
112/2返回列表上一页12
普通表情 龙 兔 虎 猫 高级回复(可上传附件)
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭