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huangck

木虫 (正式写手)

[交流] XRD 数据分析,有奖讨论

XRD 分析是材料分析最基本和最常见的分析技术,我们可以通过它的数据分析出晶相、晶向、成分、晶粒大小等数据,一般情况,我们借助PCPDFWIN 和Jade 辅助分析,但是一般人分析只是较为浮浅,对软件一些功能的操作还为挖掘出来,大家在分析时对于数据分析的小技巧,心得讲来分享、分享,让我们也能较好的分析数据。谢谢!

希望大家积极参与!

[ Last edited by imrking on 2006-4-22 at 18:04 ]
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wustliang

至尊木虫 (著名写手)

我是做粉末衍射样品的,在这里只就粉末衍射说一点看法。
pcpdfwin的功能比较单一,如果想做的精细就要求从一开始样品的制备与众不同。
首先粉末衍射要求样品的粒度要在330-450目,当然理想状态是1um,但在实际上很难做到,即使研磨到1um了,晶格也破坏的差不多了。
其次调整衍射仪,一般放个多晶Si片就可以了,检查仪器的状态。当然在实际测量的时候最好是在样品里加入内标相,这样很多影响因素就不用一一校正了
扫描的步径不是越小越好,一般0.01-0.005也就可以了。因为做结构精修时,要求步径为最小FWHM的1/10也就足够了。最强计数要在10000-20000之间。
36楼2006-09-30 09:11:43
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imrking

荣誉版主 (著名写手)

1

想法不错,欢迎大家踊跃讨论,参与者有奖呀,
下雨了,别忘了打伞,湿身是小,淋病就麻烦啦~~~:)
2楼2006-04-22 18:03:16
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buaahao

木虫 (正式写手)

0.5

是的,最好是一个视频文件,把一个数据从导入到处理演示一遍。我相信论坛里有这样的高手的。
3楼2006-04-22 18:05:48
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jpliao_1980

我就是做XRD的,我的导师是这方面的专家。
4楼2006-04-22 18:26:12
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