Originally posted by luwei_6 at 2010-08-23 22:10:48:
看文献说到过采用掠入射操作不当的话会造成劣化的假象，建议先别用掠入射扫看看

Originally posted by xhzhi1985 at 2010-08-25 21:39:30:

刚开始是用同步辐射做的，但除了衬底硅的峰外，什么都看不到，当局部放大后在33度附近看到与掠射差不多的衍射峰，估计我这个应该是非晶的，有个问题想请教一下，非晶的衍射峰一般都是在33度附近吗，不同材料的话 ...

Originally posted by xhzhi1985 at 2010-08-03 16:50:21:
样品是沉积在单晶硅上的金属氮化物薄膜，厚度有850nm左右，用的是掠角衍射，衍射角2度
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8楼: Originally posted by chenyang1987 at 2010-08-04 18:23:21
我也是做非晶材料的，如果你测试仪器和条件没有问题的话，从这个图谱看是非晶，但是我建议你最好去同步辐射的X射线衍射线站再做一下，因为影响谱图的因素有很多