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wangpeng7628

金虫 (正式写手)

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注册: 2009-10-18
性别: GG
专业: 新生儿相关疾病

[交流] 【求助】XRF成分分析已有13人参与

本人查了很多资料，但是找不到XRF能够测试样品的深度，因为做了一个块体材料的XRF，特别想知道这种测试方法能够测试样品的深度是多少

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1楼2010-07-10 00:05:04

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cdchen2003cd

捐助贵宾 (正式写手)

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虫号: 485003
注册: 2007-12-27
性别: GG
专业: 光谱分析

样品所产生×射线荧光在到达试样表面时,
强度的99%被吸收(又称99%的无限厚度)
      d = (4.61 * sin2)/ 
如果荧光×射线对试样的出射角为
    2=40°，则：
   d(cm) = 2.96 /
   d(um)=29600/
材料 Mg K Cr K Sn K
Pb 0.6 m 4 m 50 m
Fe 0.9 m 30 m 260 m
SiO2 7 m 100 m 0.8 cm
Li2B4O7 12 m 800 m 4.1 cm
H2O 14 m 900 m 4.7 cm

可以计算的，这个是我的资料