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【求助】求助啊。。。分析考试啦。。。。 已有2人参与
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如题，问题有点弱，谢谢大家帮助啊！ 1.石墨炉原子吸收的基体效应是什么啊？那些途径可以消除这些干扰？如何看待正干扰与负干扰？ 2.石墨炉，原子荧光的原理是什么，两者的主要区别是什么呢？ 问题有点弱，回答最好要书面点的，详细点最好，谢谢大家啊！ |
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面上提前没消息，有中的吗
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xiaoshm
至尊木虫 (文坛精英)
Eugénie Grandet
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小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
铁甲骑兵(金币+1):辛苦了 2010-06-10 08:31:41
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1. 物理干扰(基体效应) 物理干扰是指试样在转移、蒸发和原子化过程中，由于试样物理特性的变化而引起的吸收强度变化的效应。它主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小及分布、溶剂与固体微粒的蒸发等。这类干扰是非选择性的，对试样中各元素的测定影响基本相同。 属于这类干扰的因素有：试液的黏度，它影响试样喷入火焰的速度；表面张力，它影响雾滴的大小及分布；溶剂的蒸气压，它影响蒸发速度和凝聚损失；雾化气体的压力，它影响喷入量的多少等。这些因素都将影响进入火焰中的待测元素的原子数量，从而影响吸光度的测定。此外，大量基体元素的存在，总含盐量的增加，在火焰中蒸发和离解时要消耗大量的热量，也可能影响原子化效率。 配制与待测溶液具有相似组成的标准样品，是消除物理干扰的常用而有效的方法。在不知道试样组成或无法匹配试样时，可采用标准加入法或稀释法来减小和消除物理干扰。 背景吸收 包括分子吸收和光散射引起的干扰。 分子吸收： 在原子化过程中所产生的气体分子，氢氧化物，难解离的盐类，难熔氧化物等分子对待测元素共振线的吸收而产生干扰. 分子吸收是带光谱。产生正误差。 光散射 •原子化过程产生的微小固体颗粒使光产生散射 •造成虚假吸收，使吸光度升高。 •背景干扰往往产生正偏差。 、背景校正方法当存在背景吸收时，测得的总吸光度At为被测元素无背景吸收时的吸光度Ax与背景吸光度Ab之和，即At= Ax+ Ab必须设法测出Ab，从At中扣除，则背景吸收达到校正，Ax= At‐Ab= KC主要有邻近非共振线法、连续光源法和塞曼(Zeeman)效应法 2. 原子吸收光谱法的基本原理 原子吸收光谱法是利用待测元素所产生的气态基态原子对其特征谱线的吸收程度来进行定量分析的方法。 当通过基态原子的光辐射的能量 hν 恰好等于原子由基态跃迁到激发态所含有的能量ΔE时，ΔE=h ν =hc/λ，基态原子吸收光辐射, 产生原子吸收光谱（线）。其中原子由基态直接跃迁至激发态所产生的谱线称为共振线。由基态跃迁至第一激发态所产生的谱线称为第一共振线或主共振线或共振线。 原子荧光是原子蒸气受具有特征波长的光源照射后，其中一些自由原子被激发跃迁到较高能态，然后去活回到某一较低能态(常常是基态)而发射出特征光谱的物理现象。当激发辐射的波长与产生的荧光波长相同时，称为共振荧光，它是原子荧光分析中最主要的分析线。另外还有直跃线荧光、阶跃线荧光、敏化荧光、阶跃激发荧光等。各种元素都有其特定的原子荧光光谱，根据原子荧光强度的高低可测得试样中待测元素含量。这就是原子荧光光谱分析。 特点： （1）属光致发光；二次发光； （2）激发光源停止后，荧光立即消失； （3）发射的荧光强度与照射的光强有关； （4）不同元素的荧光波长不同； （5）浓度很低时，强度与蒸气中该元素的密度成正比，定量依据(适用于微量或痕量分析)； |
2楼2010-06-09 19:10:22
谢谢楼上朋友啊！ 3楼2010-06-10 07:48:19
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