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blackmail

木虫 (正式写手)

[交流] 【请教】XPS测试中C峰的问题 已有10人参与

我用共沉淀法合成的纯Fe3O4(没有加入任何表面活性剂)纳米粉拿去做XPS,给我的结果里C的含量23.83 At.%, N的含量0.76 At.%, O的含量52.93 At.%, Fe的含量22.48 At.%, N的含量我可以理解为误差或气氛中的杂质气体,但为什么C的含量有这么高,我的样品里面应该没有碳啊!请高手指教。
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木虫 (正式写手)

那我怎么去除碳的峰,我后面还有几个样品是用碳包覆Fe3O4,那不是和我自己样品中的碳没法区分了
4楼2010-06-09 08:23:25
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木虫 (正式写手)

问题是我后面的几个样品,是Fe3O4包覆碳,我想看包覆后,碳含量的变化,现在标定的碳含量比我本身包覆的碳量还要高的多,我怎么算氧化铁和包覆碳的比例啊。
8楼2010-06-09 09:48:22
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木虫 (正式写手)

包覆碳后的Fe3O4/Carbon 结果里C的含量44.81 At.%, N的含量5.86 At.%, O的含量39.1 At.%, Fe的含量10.24At.%,。
9楼2010-06-09 09:56:21
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木虫 (正式写手)

引用回帖:
Originally posted by zuozhijun5134 at 2010-06-09 11:57:53:
你的样品本身带有C,那就可以清除表面的C所有的XPS都可以搞定的

怎么去除表面的C,是用离子溅射刻蚀吗?
12楼2010-06-09 12:01:01
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木虫 (正式写手)

除了碳的污染峰,是不是氧的污染峰强度也很高,影响也比较大,从出来的结果看,Fe/O含量比明显偏低许多,不符合3/4的化学计量比
15楼2010-06-09 15:17:38
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木虫 (正式写手)

引用回帖:
Originally posted by tina050582 at 2010-06-09 18:15:31:
污染C通常是CO2,它的XPS峰位比较高288左右
你的样品应该表面30s Ar离子刻蚀
再测
至于可能是什么来源的C
还是XPS分峰,比如285.6通常对应于C-C键
286通常对应于C-N
288通常对应于C-O
分峰后的封面积比对应不 ...

我的纯Fe3O4样品中的 C 峰位置在284.8,不是你所说的污染C 288位置,是怎么回事?
18楼2010-06-09 19:29:28
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木虫 (正式写手)

引用回帖:
Originally posted by tina050582 at 2010-06-10 09:15:25:
那还不简单吗 就是你的样品袋,或者测试时压片镊子的影响吧

我的样品是用塑料样品袋装的,难道这也有影响?测XPS到底应该怎么对样品处理了,影响因素这么多,又都很敏感。
20楼2010-06-10 10:33:54
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