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【求助】求助：测定晶粒大小和晶格畸变问题？？ 已有1人参与
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在测定晶粒大小和晶格畸变（微观应力）的时候，需要通过琼斯公式进行两次的反卷积解析。 第一次是从实测的峰宽B中解析出物理宽化β和仪器峰宽b；第二次是从物理宽化中解析出晶粒细化峰宽m和晶格畸变峰宽n。（见xrd技术和设备--丘利，胡玉和主编，冶金工业出版社） 然而这些参数B、β、b、m、n都是指的积分宽度，而我们通常直接测得的是FWHM。 请大家讨论一下如何理解 积分宽度和FWHM之间的关系，以及如何测量积分宽度？？？有没有比较好的软件，直接测出积分宽度的？？？？ |
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3楼2010-05-21 17:03:19