| 查看: 371 | 回复: 0 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
[交流]
【求助】请教如何用红外吸收谱计算氢化硅薄膜中的氢？
|
|||
|
我在硅片和玻璃基体上利用磁控溅射镀制了氢化硅薄膜， 然后在对硅片基体上的薄膜进行了红外透射谱的测试， 请问要如何将透射谱转化成吸收谱，再进行氢含量的计算。 另外，如果将薄膜刮下来压片测试会不会比直接测试的结果好点？ 谢谢，不胜感激啊！ [ Last edited by luoqiquan on 2010-10-21 at 05:07 ] |
回复此楼» 猜你喜欢
反铁磁体中的磁性切换：两种不同的机制已成功可视化
已经有0人回复
-
求标准粉末衍射卡号 ICDD 01-076-1802
已经有0人回复
-
物理学I论文润色/翻译怎么收费?
已经有156人回复
-
新西兰Robinson研究所招收全奖PhD
已经有0人回复
-
石墨烯转移--二氧化硅衬底石墨烯
已经有0人回复
-
笼目材料中量子自旋液体基态的证据
已经有0人回复
-
数学教学论硕士可以读数学物理博士吗？
已经有0人回复
-
德国亥姆霍兹Hereon中心汉堡分部招镁合金腐蚀裂变SCC课题方向2026公派博士生
已经有4人回复
-
澳门大学 应用物理及材料工程研究院 潘晖教授课题组诚招博士后
已经有11人回复