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zhousanduo

金虫 (著名写手)

[交流] 【请教】TEM和SEM

有谁告诉我 TEM和 SEM的适用范围，还有哪几种表征方法，及其适用范围。谢谢
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有梦才能成功！
1楼 2010-03-31 11:58:18
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清醒醉人

木虫 (正式写手)
★ ★
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xucz(金币+1):谢谢回帖交流 2010-03-31 12:24
SEM主要是材料的表面形貌，摩擦磨损形貌分析等
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2楼2010-03-31 12:02:11
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fifory

木虫 (正式写手)
★ ★
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xucz(金币+1):谢谢回帖交流 2010-03-31 12:24
TEM适合检测晶体内部结构，也可看表面，但效果远不如SEM
SEM用于看表面，晶体非晶体都行
其它表征方法主要有XRD、EDS、ASF等
XRD用于检测物相及成分
EDS用于检测元素及含量
ASF用于看原子表面
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3楼2010-03-31 12:04:35
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zigo

木虫 (正式写手)
★ ★
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xucz(金币+1):谢谢回帖交 2010-03-31 16:11
SEM主要用于观察试样的微观组织形貌，还可以定量检测某一区域的元素含量！
TEM主要用于微观组织精细结构的观察，如沉淀相等，也可定性检测某一物像！
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inner~peace
4楼2010-03-31 12:49:37
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mickey6596

木虫 (正式写手)
扫描电镜和透射电镜，上面的都回答清楚啦，跟进顶一下。
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:昨夜西风凋碧树。独上高楼，望尽天涯路。衣带渐宽终不悔，为伊消得人憔悴。众里寻他千百度，蓦然回首，那人却在灯火阑珊处。
5楼2010-03-31 15:27:49
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comma

专家顾问 (知名作家)

材料人
★ ★
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xucz(金币+1):谢谢回帖交流 2010-03-31 16:11
引用回帖:
Originally posted by zhousanduo at 2010-03-31 11:58:18:
有谁告诉我 TEM和 SEM的适用范围，还有哪几种表征方法，及其适用范围。谢谢

SEM
SEM        二次电子（5nm）放大倍数（×10-×100，000），景深大（3nm）BE         背散射电子        面成分像                       
EDX        特征X射线的能量 线扫描、面扫描、面成分像(0.1%,1μm)       
WDX        特征X射线的波长                (0.01%)       
EBSD        电子背散射衍射 晶体对称、取向、完整性、晶格常数
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每天一小步也有新高度
6楼2010-03-31 15:55:31
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