[交流] 【请教】TEM和SEM

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有梦才能成功！

1楼2010-03-31 11:58:18

清醒醉人

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SEM主要是材料的表面形貌，摩擦磨损形貌分析等

2楼2010-03-31 12:02:11

fifory

木虫 (正式写手)

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TEM适合检测晶体内部结构，也可看表面，但效果远不如SEM
SEM用于看表面，晶体非晶体都行
其它表征方法主要有XRD、EDS、ASF等
XRD用于检测物相及成分
EDS用于检测元素及含量
ASF用于看原子表面

3楼2010-03-31 12:04:35

zigo

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SEM主要用于观察试样的微观组织形貌，还可以定量检测某一区域的元素含量！
TEM主要用于微观组织精细结构的观察，如沉淀相等，也可定性检测某一物像！

inner~peace

4楼2010-03-31 12:49:37

mickey6596

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专业: 金属结构材料

扫描电镜和透射电镜，上面的都回答清楚啦，跟进顶一下。

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:昨夜西风凋碧树。独上高楼，望尽天涯路。衣带渐宽终不悔，为伊消得人憔悴。众里寻他千百度，蓦然回首，那人却在灯火阑珊处。

5楼2010-03-31 15:27:49

comma

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材料人

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引用回帖:

Originally posted by zhousanduo at 2010-03-31 11:58:18:
有谁告诉我 TEM和 SEM的适用范围，还有哪几种表征方法，及其适用范围。谢谢

SEM
SEM 二次电子（5nm）放大倍数（×10-×100，000），景深大（3nm）BE 背散射电子面成分像
EDX 特征X射线的能量线扫描、面扫描、面成分像(0.1%,1μm)
WDX 特征X射线的波长 (0.01%)
EBSD 电子背散射衍射晶体对称、取向、完整性、晶格常数

每天一小步也有新高度

6楼2010-03-31 15:55:31