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juchao2004金虫 (小有名气)
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求大家帮翻译一段，谢谢
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图2所示为正交优化后的试样（10#）与未掺杂试样（0#）的介电损耗随使用温度的变化规律。由图可知，随着温度的升高试样的损耗有逐渐增大的趋势，但正交优化试样的损耗始终低于基体材料的损耗。在低温阶段介电损耗随温度的变化不大，随着环境使用温度的升高，介电损耗出现增大趋势，这是因为对于压电陶瓷来说，体系的介电损耗主要由极化弛豫引起。在低温阶段时，偶极距基本不随交变电场的变化而改变，所以由极化弛豫而引起的损耗较小；当温度升高时，偶极距的热运动增大，极化弛豫引起的损耗增大。 图4所示为正交优化后的试样（10#）与未掺杂试样（0#）的频率系数随使用温度的变化规律。由图可知，未掺杂（0#）试样为负温度系数，即随温度的升高材料的谐振频率降低。正交优化试样的谐振频率随温度的升高变化不大，说明掺杂明显提高了材料的稳定性，更适合于大功率方面的应用。 由图5可以看出，不同MnO2掺杂含量对材料的相组成影响不大，样品均为纯钙钦矿结构，无焦绿石相产生。在2θ=45°左右均有分峰现象，即三方相和四方相共存。随着MnO2掺杂含量的增多，四方相的特征峰T(200)和T(002)逐渐降低，三方相的特征峰R(200)逐渐增强，说明MnO2使体系的相结构由四方相逐渐转化为三方相，准同性相界向四方相移动，材料的压电性能降低，所以MnO2在体系中的掺杂含量不宜过高。 |
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