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哪位能介绍一下各种现代测试分析方法分析范围
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2楼2006-02-17 09:36:24
forster_ai
铜虫 (初入文坛)
- 应助: 2 (幼儿园)
- 金币: 138.2
- 帖子: 36
- 在线: 6.7小时
- 虫号: 161902
- 注册: 2006-01-10
- 性别: GG
- 专业: 极端条件下使用的金属材料
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主要看楼主需要测什么样品了,楼上的把几种常用的方式说了,欧补充一些。 1. XPS(X-ray Fluorescence Spectrometry-x射线光电子谱)和AES(Auger Electron Spectrometry, 俄歇电子谱)主要用于表面成分分析,主要由于他们激发的电子或荧光自由程很短。其中auger的分辨率搞(探测极限和空间分辨率两个方面)但主要用于测轻元素(理论上可以测重元素但效率不高),而XPS则可以测Be-U的所有元素,虽然分辨率稍低。 他们基本是专用设备(独立的) 2.EDS 和 WDS 可以测基体成分,空间分辨率一样,取决于样品和加速电压而定(15kev,Ti样品空间分辨率1立方微米,而铝就得3-5立方微米) WDS有三个优点(1)可以测痕量元素~0.1%,但需要使用合适标样(2)分辨元素精度高,主要是峰位半高宽分辨率高,在20ev,而EDS一般在150ev左右,所以峰位重叠可能性小。(3)可以测轻元素,理论上是B以上的元素,对于O,N,S,P的测定是拿手的。一个缺点,耗时长,一次只能测一个元素。。。 EDS 优点是快速测定基体中所有元素,但可信的是Na以上的(理论上是B以上,但由于低能部分和重元素的L,M峰的重合使得标定不可信),如果制备与样品成分接近的标准样品后再使用EDS是测定Na以上元素的可信的方法(精度在0.1%wt),可以替代化学分析。。但如果没有标样或者只有纯元素标样,则误差在1%以上,痕量元素量化结果不可信! 以上主要配置在SEM和TEM上,wds好像只在sem上 3. EELS(能量损失谱),测定Be以上所有元素,定量不是很容易,但定性很好,同时可以测定元素的化合价位,主要装在TEM上 4.化学分析(water-chemical analysis,水法分析),通吃,测微量(小于10%很准,大于40%就有些困难。。) 5.UPS。。RBS。。我不懂 注:本人经常用auger,edx和wds。。但xps没用过,但我们这有这个设备所以知道一些, |
3楼2006-02-18 03:47:31










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