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哪位能介绍一下各种现代测试分析方法分析范围
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2楼2006-02-17 09:36:24
forster_ai
铜虫 (初入文坛)
- 应助: 2 (幼儿园)
- 金币: 138.2
- 帖子: 36
- 在线: 6.7小时
- 虫号: 161902
- 注册: 2006-01-10
- 性别: GG
- 专业: 极端条件下使用的金属材料
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主要看楼主需要测什么样品了，楼上的把几种常用的方式说了，欧补充一些。 1. XPS（X-ray Fluorescence Spectrometry－x射线光电子谱）和AES（Auger Electron Spectrometry, 俄歇电子谱）主要用于表面成分分析，主要由于他们激发的电子或荧光自由程很短。其中auger的分辨率搞（探测极限和空间分辨率两个方面）但主要用于测轻元素（理论上可以测重元素但效率不高），而XPS则可以测Be－U的所有元素，虽然分辨率稍低。 他们基本是专用设备（独立的） 2.EDS 和 WDS 可以测基体成分，空间分辨率一样，取决于样品和加速电压而定（15kev，Ti样品空间分辨率1立方微米，而铝就得3-5立方微米） WDS有三个优点（1)可以测痕量元素～0.1%，但需要使用合适标样（2)分辨元素精度高，主要是峰位半高宽分辨率高，在20ev，而EDS一般在150ev左右，所以峰位重叠可能性小。（3)可以测轻元素，理论上是B以上的元素，对于O,N,S,P的测定是拿手的。一个缺点，耗时长，一次只能测一个元素。。。 EDS 优点是快速测定基体中所有元素，但可信的是Na以上的（理论上是B以上，但由于低能部分和重元素的L，M峰的重合使得标定不可信），如果制备与样品成分接近的标准样品后再使用EDS是测定Na以上元素的可信的方法（精度在0.1%wt），可以替代化学分析。。但如果没有标样或者只有纯元素标样，则误差在1%以上，痕量元素量化结果不可信！ 以上主要配置在SEM和TEM上，wds好像只在sem上 3. EELS（能量损失谱），测定Be以上所有元素，定量不是很容易，但定性很好，同时可以测定元素的化合价位，主要装在TEM上 4.化学分析（water－chemical analysis，水法分析），通吃，测微量（小于10%很准，大于40%就有些困难。。） 5.UPS。。RBS。。我不懂 注：本人经常用auger，edx和wds。。但xps没用过，但我们这有这个设备所以知道一些， |
3楼2006-02-18 03:47:31