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yycsjbm4

木虫 (著名写手)

[交流] 【求助】求助:关于XPS

想问下做过XPS的同学:
       我想测我做的树脂的表面硅含量, 看文献里报道用XPS,光电子从不同角度入射进行测量, 一般做这种测量的话样品怎么制备?
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mgtswtzc

金虫 (小有名气)

★ ★ ★
yycsjbm4(金币+3,VIP+0):很有帮助,谢谢~ 12-3 13:05
你是想由表及里逐层的分析样品的元素信息?那就用变角xps测定好了,样品都用一个样就可以了(除非你的样品对x光敏感,长时间照射会被照坏,否则用一个样就差不多了),之后你告诉实验员帮你测一个5°的,10°的,30°的等等,然后就会得到不同深度的xps谱图,这个是通过样品的旋转得到的,对样品本身没什么特别的要求,之后根据正弦公式就可以把自由程折算成深度~~~
2楼2009-12-02 17:22:53
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yycsjbm4

木虫 (著名写手)

多谢解答,样品表面需要做什么处理吗?
3楼2009-12-03 13:06:51
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mgtswtzc

金虫 (小有名气)

★ ★
yycsjbm4(金币+2,VIP+0): 12-3 16:44
表面净化很重要,可以使用仪器自带的亚离子枪进行表面亚离子刻蚀,这样可以刻蚀掉表层原子,除掉表层吸附的杂质,同时高分子样品一般都带静电,而且有时候静电会很厉害,可以用仪器自带的电子枪,中和掉表面静电~~不同的仪器配置不一样,要求也各不相同,你具体问实验员好了,看人家怎么要求的
4楼2009-12-03 14:13:04
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yycsjbm4

木虫 (著名写手)

再次感谢
5楼2009-12-03 16:44:51
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