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woodtower铁杆木虫 (著名写手)
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【请教】在石墨基体上导电聚合物涂层的四探针法测定
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最近做了一个涂层（10 um 左右），想采用四探针法测量涂层的电导率，但现在问题是涂层在基体上不能剥离，不知道有那位虫友做过相关的实验（或者对四探针法很熟），请指点该实验涂层涂层的厚度与基体材料对电导率的测量有什么样的影响。 看文献，好像基体基本上是半导体材料单晶硅之类的，我这个是导电材料石墨板（方形，30*50*6mm），不知道两者有和区别。 在木虫里看到有虫友讲到（http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=574610&view=old），基底不导电的话，测量简单，分析的时候关系复杂，因为还和表面及界面对电子的散射状况相关。若设d/l=K，则近似的，r0/r=1-(3/16K)*(2-p-q), d为膜厚，l为电子平均自由程，r0是体材料的电阻率。p,q分别表征表面和界面对电子的散射状况。薄膜较厚时，电阻率和厚度没什么关系。 但是如果基底导电，测量的时候就得考虑基底的并联作用了。 说的很好，我想知道基体导电时候如何考虑其并联作用，越详细越好，谢谢了. 自己尝试，用四探针法无法测出涂层的电阻率：测试时，探针能够不捅破涂层且接触良好，但是此时显示的体积电阻率或方块电阻都是0，继续增加压力，出现的电阻率和石墨的完全一样，而文献表明此时的电阻率应该出现。 PS:用的四探针测试仪为：SDY-4数字式四探针测试仪 广州半导体材料研究所产 |
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