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从隧穿到界面——一个材料退化的物理图像 已有1人参与
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一、从一个简单问题说起 为什么同样是磷酸铁锂，有的循环 2000 次还能保持 80% 容量，有的 500 次就不行了？ 表面看是工艺差异。 往深一层看，是离子迁移路径的阻塞程度不同。 二、从量子隧穿看阻塞 锂离子在晶格中的迁移，本质上是量子隧穿过程。 隧穿概率： P\sim e^{-2\kappa L} 其中 \kappa 是势垒高度，L 是势垒宽度。 材料退化时，会发生： · 晶格畸变 → L 增大 · Li-Fe 反位 → \kappa 增大 · 界面碳层破损 → 隧穿通道断裂 这三个变化，导致隧穿概率指数级下降。 这就是容量衰减的物理根源。 三、这意味着什么 只要把 L 和 \kappa 恢复到合理范围，容量就能恢复。 问题在于：怎么定量知道恢复到什么程度？ 这就是修复的核心。 四、一个可操作的方向 我们从结构出发，建立了一套定量的修复预测方法。 输入退化参数，输出修复指标。 不是试错，是计算。 五、关于合作 有长期构建需求者，站内私信。 发自小木虫手机客户端 |
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2楼2026-10-07 15:01:22