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【求助】关于xrd测晶体粒度
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论坛里面有关于一些测粒度的，不过都没有解决问题 主要是关于β值的确定 我看到一本书上使用的是（1）混合标准样进行xrd的分析，然后得到标准样的敏锐峰和待测样的弥散峰。 （2）求出敏锐峰的θ和半高宽b0的关系；用内插法求出于试样对应的位置（θ）的b0值。 （3）用式子β=b-b0得到结果 b为试样的半峰宽，b0为标准样的 对于这种方法，我想问的“敏锐峰的θ和半高宽b0的关系”是什么？ 另外一种方法是直接给出β=4ε，ε与波长、面间距、角度和某一面的层数有关，将β代入谢乐公示后，得到的是D=Nd，也就是某一面的层数和面间距的乘积。 这种方法是不是没有考虑到一些其他因素的宽化？ 期待各位的高见 |
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lovechem
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