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构建美好

新虫 (初入文坛)

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虫号: 28835477
注册: 2022-02-27
专业: 机械工程

[求助] 求助：关于收层数敛性测试的问题。┭┮﹏┭┮

求助SOS：
有没有大佬能助助第一性原理小白，
1导入铜cif文件，Cu的a=b≠c在a，b方向固定较高的k点密度，改变c方向的k点密度做收敛性测试。取E<0.02ev/atom的k点数k-c。
2 在c方向固定较高的k点密度，改变a，b方向的k点密度做收敛性测试。取AE<0.02ev/atom的k点数k-a，k-b。
3取较高的a，b，c方向的k点密度，每隔50ev设置一个截断能。取AE<0.02ev/atom的cutoff。
4取上述k-a，k-b，k-c，cutoff做晶胞几何优化。晶胞参数变化<5%则说明可取。

5切面超胞至a，b>10A。根据表面能做层数收敛性测试。取AE<0.02ev/atom时的层数。直空层厚度15A.

这里5.收敛性测试计算表面能发现不收敛，一直增大怎么回事？

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