| 查看: 179 | 回复: 2 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
[交流]
【讨论】关于俄歇标定厚度
|
|||
| 对于衬底是375um的GaAs样品，外延膜是30个纳米左右 的单晶薄膜，用俄歇电子能谱标定厚度，精确性值得信赖么？溅射一个30nm 的薄膜需要多长时间，可以用断面直接做元素分布分析么？还有哪些比较好的办法标定厚度？ |
回复此楼» 猜你喜欢
有没有人能给点建议
已经有5人回复
-
假如你的研究生提出不合理要求
已经有12人回复
-
实验室接单子
已经有7人回复
-
全日制（定向）博士
已经有5人回复
-
萌生出自己或许不适合搞科研的想法，现在跑or等等看？
已经有4人回复
-
Materials Today Chemistry审稿周期
已经有4人回复
-
参与限项
已经有3人回复
-
对氯苯硼酸纯化
已经有3人回复
-
所感
已经有4人回复
-
要不要辞职读博？
已经有7人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
heyuhit
木虫 (著名写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 2024.7
- 帖子: 1337
- 在线: 45.6小时
- 虫号: 798292
- 注册: 2009-06-24
- 性别: GG
- 专业: 金属材料表面科学与工程
2楼2009-10-16 18:33:13
3楼2009-10-16 20:17:42