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如何用origin实现测试荧光寿命信号对仪器响应的去卷积操作？ 已有1人参与
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| 测试了样品的荧光寿命和仪器响应函数（IRF）。origin数据都有。由于数据处理的需要，需要在测试信号中扣除IRF的影响，请问怎么操作呀 |
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y010204025
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2楼2023-09-08 10:11:45