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zxzj05荣誉版主 (著名写手)
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【求助】各个晶向导电性能的区分模拟方法
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实验上,在做某种材料的研究中发现,材料某种取向较多时,其导电性能比较好,如(311)相对(210)好,我想能带上可能可以表示出来两者的区别。 现在,我比较困惑的是,如何建立一个合适的模型来计算。 切割(311)和(210)表面,加以计算对比是第一个想法,但是没有计算过表面能带,对此没有经验,能表征出来吗? 时间比较紧,而机器也排得很满,想有的放矢而不至于胡乱试验浪费时间, 请大家指点一下, 这个方法可行否? 应该注意些什么? 还有没有更好的方法? 任何回复都令本人非常感激! |
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wuchenwf
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2楼2009-09-24 21:58:48
★ ★ ★ ★ ★ ★
qasd(金币+1):xiexie~
zxzj05(金币+5,VIP+0):非常感谢你的详细解答! ^_^ 9-27 12:14
qasd(金币+1):xiexie~
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就我所知,根据体系的的尺寸跟电子某些特征长度(比如平均自由程,局域化长度等),输运可以分为宏观输运和介观输运。前者以波尔兹曼方程为基础,把电子作为经典粒子,不考虑波粒二象性。而介观输运是整个凝聚态物理的热点,以兰多儿公式或是修正的兰多儿公式为基础,考虑电子相干效应(比如弱局域化效应,反弱局域化效应等),以波粒二象性为出发点,在理论上用非平衡格林函数或是转移矩阵的方法来研究。 根据LZ的描述,我觉得应该是多晶体系的输运性质。不客气的说,简单的DFT肯定无法直接证实电导的大小。因为这种体系的输运性质取决于很多因素,比如晶粒的界面,杂质的聚集,各个晶粒的取向等等。而其中任何一个因素,都有可能成为控制电导的主导因素,从而无法用DFT实现。 不过,如果你非要这么做,也不是不行。你可以计算一下各个表面的态密度,通过比较费米面附近的态密度的大小(因为只有费米面附近的电子态才参与导电)来间接说明这个面上的电导的大小。不过,这东西能否与实验吻合,就看你的运气了。如果能吻合自然好。如果不能吻合,比如实验上电导大的晶面理论的结果却是半导体或是绝缘体。那么,可能说明态密度在实际体系的导电性能上,并不占主导因素。可能是其他因素导致了高的电导。此时你恐怕就要用其他理论来说明问题了。 [ Last edited by yzcluster on 2009-9-25 at 21:24 ] |
3楼2009-09-25 21:21:57
zxzj05
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4楼2009-09-27 12:24:26
★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
fegg7502(金币+5,VIP+0):thank you very much! 9-27 16:50
zxzj05(金币+3,VIP+0):不胜感激!!! 9-29 10:01
fegg7502(金币+5,VIP+0):thank you very much! 9-27 16:50
zxzj05(金币+3,VIP+0):不胜感激!!! 9-29 10:01
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1.虽然我没有用过ATK,但是显然它不行。实事求是的讲,ATK所计算的输运性质,在真正搞输运的人来看,整个就是一个“玩具”。 2.导电性能的影响因素太多了,最简单的,比如本征半导体中稍微有点参杂就会大幅度改变体系的导电性,但是普通实验都很有杂质,因而测量结果就不是本征激发所特有的导电性了,这些已经是众所周知的了。上面几个帖子所说的因素也很重要。更为麻烦的是对于特殊的晶体形貌,可能主导因素往往不只有一个。 LZ可以先安装我说的算一下理想情况下表面的DOS分布。看看能否定性吻合。如果不性,我可以帮你问问,我周围有很多做输运的高手。 ![]() |
5楼2009-09-27 16:09:50
Choke
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