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wangyong8532木虫 (正式写手)
小哥
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[交流]
【请教】X射线衍射择优取向的标定
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| X射线测定的织构（择优取向）应如何标定，衍射峰应该是面指数，有的文献说是择优取向，为什么??谢谢 |
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comma
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yusen_1982(金币+1,VIP+0):欢迎讨论！ 9-10 07:20
wangyong8532(金币+2,VIP+0):谢谢 9-10 11:14
yusen_1982(金币+1,VIP+0):欢迎讨论！ 9-10 07:20
wangyong8532(金币+2,VIP+0):谢谢 9-10 11:14
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X射线测织构的原理是利用X射线扫描多晶材料衍射强度分布，统计出极密度分布；其过程为： 首先，扫描得出谱图，得出实际的2theta角位置； 然后，根据2theta角设定该材料的扫描旋转角； 然后，扫描结束后得到一套极密度分布数据，可用极图表达； 然后，根据得到的极图数据，计算得出取向分布函数ODF，有的系统也可以算出反极图及织构组分含量； 以上都是实验员操作的过程，用户一般不需要了解其过程，更多工作是读懂极图、ODF、反极图等信息，也就是标定织构或取向。建议楼主参阅织构相关书籍资料。 另，2楼的说法不妥。XRD谱图的最高峰与织构择尤没有直接联系，无织构粉末样品也有三强峰的，当然织构会影响谱图中峰的高低，甚至会使得有些2theta角位置的峰消失或增高。 还有，择尤不等于择优，织构没有优劣之分。“而视之尤。——《左传·襄公二十六年》。服注: 甚也。”；尤, 异也。——《广雅》 [ Last edited by comma on 2009-9-10 at 00:02 ] |
3楼2009-09-09 23:58:51
moqifengzi
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2楼2009-09-09 19:49:27
4楼2009-09-10 16:57:23
yjyang07
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5楼2009-09-10 21:31:06