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想要测试固体样品中缺陷的荧光光谱，怎么测
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| 固体样品是晶体，大概在表面几十微米深度范围内有几个微米长的裂纹缺陷，想要用荧光的方法对这种缺陷进行观测。是不是需要先测缺陷的荧光光谱呢？具体怎么测呢？荧光光谱仪可以直接测到裂纹位置的荧光吗，还是说需要共聚焦之类的定位到裂纹位置？制样有什么要求吗，尺寸之类的 |
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