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173/2858/7427 单晶/成分分析/电镜技术/原位测试/蛋白测序/X射线分析等
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1.电镜技术：SEM，TEM，FIB 2.形貌分析：表面，内部，三维 3.样品制备：SEM制样，TEM制样，EBSD制样，金相制样 4.力学性能：常规力学，试样加工，纳米力学 5.物理性能：电学测试，磁性测试，热学测试，核磁分析，空隙分析 6.微纳加工：掩膜制造，光刻技术，薄膜生长，金属镀膜，刻蚀技术，划片工艺，离子注入，晶圆键合，芯片代工，CMP磨拋技术，缺陷分析，引线键合 7.X射线分析：颗粒分析，表面元素，内部结果，结晶分析，残余应力，薄膜成分，物相分析 8.成分分析：质谱，光谱，能谱，波普，燃烧分析，重量分析，化学分析 |
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630楼2026-08-16 23:19:14
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tzynew2楼
2021-12-10 14:13
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一品哥哥6楼
2021-12-10 14:48
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XG-WUST12楼
2023-12-16 22:59
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tfang14楼
2025-09-19 16:35
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