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请问掠入射XRD可以测粉末样品颗粒的表面结构吗 已有1人参与
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我这里想要探测正极颗粒（微米级)的表面晶体结构（100nm以内），因为要加一些原位装置，所以觉得同步辐射上会更好一些。我查掠入射主要是测薄膜的表面结构，想问一下能不能测量粉末样品颗粒表面的晶体结构。 发自小木虫Android客户端 |
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