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[交流]
【交流】用过光折变晶体的来
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我想问一下，光折变晶体用来记录干涉条纹的时候，一般用什么波长的激光？我看到很多文献上有绿光记录的，也有红光记录的，还有就是对激光器的功率有什么要求，曝光时间多少？ 曝光以后，用什么简单的方法判断已经曝光记录好了，还是没记录好，另外就是擦除的时候，怎么判断已经擦除掉了。 希望用过光折变晶体的来交流一下，没用过的不要在下面跟帖了，谢谢！ |
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2楼2009-08-22 22:23:28
smy1982
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3楼2009-08-24 22:53:03
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个人观点：短波长能激发光折变晶体内的深能级，相应的光生载流子（对铌酸锂主要是光电子数目要多，也就是光折变效应要强。不过别的波长当然也可以激发。视具体实验要求而定。我用488的氩离子。 对激光的功率一般没什么要求，不过小功率需要的曝光时间长才能曝光充分才能使折射率改变达饱和最大值。我一般选择功率20mW，曝光时间10分钟。 至于是否擦除好了，一般肉眼能看出来吧，我们是用60，120，180度各退火半小时。 推荐你看看科学出版社的《光折变非线性光学及其应用》南开大学刘思敏、郭儒、许京军编。这里面介绍得很详细。 欢迎交流，共同学习。 |
4楼2009-08-27 11:44:33
5楼2009-09-03 23:54:04
水平不高，瞎回答一下
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看书，应该比较好的是李铭华的光折变材料导论，简单明了。用的波长一般如铌酸里晶体和参杂有关，不过实验中红绿光存储对各种掺杂都可有较好效果，存储时间和光强密度有关，一般用w/cm2表征，几十毫瓦激光器，曝光时间可以调整光束使存储图像时间到秒级。擦除判别最好的方法是，存储光路不变情况下，看存储时能看到存储图像的接收器，此时噪声均匀。一般铌酸里实验中，加热均匀200度以上，一个小时后就可以了。 存储时看存储好坏最简单的是目测存储灰度图像是否均匀，不必用测试曲线衡量，这都是虚的，均匀的概念是复现的图像亮暗存储衍射效率线性。如果过亮减少曝光时间，过暗增加曝光时间。 ps：此方向太差，没啥前景，包括材料，聚合物，各种不同应用 [ Last edited by bbshitedu on 2009-9-5 at 10:40 ] |
6楼2009-09-05 10:34:50
感谢
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非常感谢楼上的兄弟给与解答，前面几位的回答都不甚满意，最近老师给了我一本李铭华的光折变材料导论，看了一下，但是书上写的和用起来还是有很大的差距，具体在实验中的一些用法还是不很清楚。鄙人也觉得此方向没啥前途，但是小弟我只是使用这个东西，具体的一些理论不需要知道的太清楚的。 小弟我还想问一下，加热擦除的时候，半个小时不够么？我加热到200度以上的时间大概维持了半个小时，擦过急吗不低于10次了，觉得总是没擦掉，只要把铌酸里晶体放在直接出来的激光上，总是反射和透射的四个光点，不知道什么原因，个人觉得是没擦掉的原因，但是也没经验，不是太确定，另外，我是不是每次擦除以后，只要放在激光下照射了以后再使用就得重新擦出啊？那样其实也很麻烦呢，擦除一次就得耗费整整一天的时间。 |
7楼2009-09-05 15:36:56
