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libing1201新虫 (小有名气)
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EBSD如何得到再结晶分布图？ 已有3人参与
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EBSD如何将晶粒划分为再结晶晶粒(recrystallized)、亚晶粒(substructured)和变形晶粒(deformed)？划分依据是怎样的？ OIM软件如何操作呢？ 有偿求助！ |
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icesharp
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根据晶粒的GOS值设定布尔运算条件将满足条件的晶粒过滤出来，一般完全再结晶的晶粒，晶粒内部取向差角小于等于2度，亚结构是2度到7度，变形的为7度以上，这个阈值不是固定的，不同的人定义的标准可能不完全一样，可根据结果进行微调。过滤出来后可以看到各种类型的晶粒所占的比例。 发自小木虫Android客户端 |
2楼2021-09-20 08:51:33
【答案】应助回帖
| 我记得做EBSD的设备好像大致分两类（这方面我不懂，可能有误，会的麻烦给我纠个错），不是输出OIM文件的那种设备输出的数据直接可以有再结晶分布图，但我导师很质疑那种方式输出的合理性——可能不是所有材料任何状况下都适用相同的临界条件。我主要是用OIM软件做分析，也如2楼所讲的，主要用GOS定临界值。我做工艺的，学习论文只清楚静态再结晶的话，完全再结晶一般都是1~2°作为临界值，另一个亚结构的临界值我理解的不如2楼深入，我不懂。/笑哭 这里有几篇我找的论文，可能不一定是最经典的，但应该还是会有帮助的（注意是动态再结晶还是静态再结晶）。（Mechanism of continuous dynamic recrystallization in a 50Ti-47Ni-3Fe shape memory alloy during hot compressive deformation; Symmetric and symmetric rolling of magnesium: Evolution of microstructure, texture and mechanical properties;A new grain orientation spread approach to analyze the dynamic recrystallization behavior of a cast-homogenized Mg-Zn-Zr alloy using electron backscattered diffraction) |
3楼2021-09-22 09:06:00
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本帖内容被屏蔽 |
4楼2021-09-22 10:03:12
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EBSD（电子束诱导映射）是一种用于确定材料微观结构的技术，它能够区分晶粒的类型，包括再结晶晶粒、亚晶粒和变形晶粒。 ## 再结晶晶粒 再结晶晶粒是指在塑性变形后，由于温度升高或应力松弛，晶粒开始重新结晶的晶粒。这种晶粒的特征是晶粒尺寸较小，晶界角度较大，且晶粒形状不规则 [?](https://muchong.com/html/201603/10032921_2.html)。 ## 亚晶粒 亚晶粒是指晶粒内部存在的一种亚稳态结构，其晶粒尺寸介于正常晶粒和非晶态之间。亚晶粒的特征是晶粒尺寸适中，晶界角度较小，晶粒形状较为规则 [?](https://muchong.com/html/201603/10032921_2.html)。 ## 变形晶粒 变形晶粒是指在塑性变形过程中产生的晶粒，其特征是晶粒尺寸较大，晶界角度较大，晶粒形状不规则 [?](https://muchong.com/html/201603/10032921_2.html)。 在OIM（Orientation Intensity Maps）软件中，我们可以通过以下步骤来进行晶粒的划分： 1. 打开OIM软件，导入EBSD数据文件。 2. 在菜单栏中选择"Analyze" -> "Define Grains"，进入晶粒定义界面。 3. 在晶粒定义界面中，可以通过手动勾选或自动检测的方式来定义晶粒。 4. 定义完成后，在菜单栏中选择"Analyze" -> "Define Regions"，进入区域定义界面。 5. 在区域定义界面中，可以通过手动勾选或自动检测的方式来定义再结晶晶粒、亚晶粒和变形晶粒的区域。 值得注意的是，划分的依据主要取决于晶粒的形态、大小、取向等特性，同时也受到实验条件（如温度、应变速率等）的影响 [?](https://muchong.com/html/201603/10032921_2.html)。 发自小木虫Android客户端 |
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