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xia_hou木虫 (正式写手)
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[交流]
【求助】XPS电子刻蚀技术在核壳结构材料中应用的相关文献
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前一段时间听了一个关于XPS的报告,XPS是作表面分析,用电子枪对样品表面进行刻蚀,然后可以检测到新的表面,也就是说可以作一个径向的元素分析; 我现在做了一个材料,二氧化硅包覆三氧化二铁F2O3 core/SiO2 shell 核壳纳米粒子,二氧化硅层约为20nm,三氧化二铁粒径约为100-150nm。 我看的文献喜欢用HRTEM进行分析,证明包覆成功; 我想XPS的电子刻蚀表面测试技术用来分析过核壳结构材料应该是再好不过了,有没有人见到过这方面的文献,最好与我做材料结构类似的核壳材料方面的文献。 不胜感激! |
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xia_hou
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