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| 【悬赏金币】回答本帖问题，作者海上澜辉213将赠送您 20 个金币 | ||
[求助]
哪位XRD大神能帮忙指导下如何回复审稿人问的XRD精修“平齐角”法如何保证结果准确性的
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最近课题组新合成了一组复合物投了篇文章，关于复合材料的XRD表征，审稿人问了下面这个问题： “The signals in the XRD (Fig. 1) at low angles (eg values such as 3.43nm) obtained under traditional operating conditions are striking, which also include a relatively high scanning speed. The tried and true XRD analysis method for fine work in those areas is with flush angles. How do the authors guarantee that we are not dealing with an artifact or a possible error in the data processing (the lysate of the signals is notable)?” 因为本人非材料专业，XRD表征是个半吊子，查了各种资料，对于审稿人提的这个问题不知如何入手回答。 哪位大佬能否帮忙解答下，小弟感激不尽！@Monash2011 |
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