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矽卡岩中辉石XRD分析择优取向问题及解决办法
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辉石是一种常见的单链结构的硅酸盐造岩矿物，在火成岩和变质岩中广泛分布。辉石有单斜和斜方两种晶系，常呈短柱状，具有{110}完全解理（图1）。本人在使用XRD分析矽卡岩中的辉石发现，采用正压法进行制样时，辉石的220晶面择优取向异常强烈，强度超过了最强峰(-221)。在后续的rietveld定量分析中，很难通过技术手段降低wrp值。重新采用侧装法制样后，220晶面择优取向明显减弱，获得的各衍射峰之间的相对强度与卡片接近（图2）。 图 1 辉石晶体.jpg  图2 辉石晶体形态.jpg  图3 XRD衍射图，白色正压法，蓝色侧装法.jpg  图4 XRD放大图，白色正压法，蓝色侧装法.jpg |
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本内容由用户自主发布，如果其内容涉及到知识产权问题，其责任在于用户本人，如对版权有异议，请联系邮箱：xiaomuchong@tal.com - 附件 1 : 矽卡岩中的辉石-正压法.raw
- 附件 2 : 矽卡岩中辉石-侧装法.raw
2021-01-16 16:40:45, 16.17 K
2021-01-16 16:40:45, 16.17 K
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