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银虫 (小有名气)

[求助] TEM元素表征分析问题已有1人参与

请教各位虫友，通过离子束刻蚀得到有一种“三明治”结构的芯片样品，中间一层成份为铊元素，外面两层为镍元素。
求问如何利用TEM的不同模式考察经过充放电循环后，外面的镍元素层是否渗透至中间的铊元素层。
感谢感谢~

1楼 2020-10-31 15:58:01

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银虫 (小有名气)

求助~~~

2楼2020-10-31 17:50:46

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专家顾问 (文坛精英)

感谢参与，应助指数 +1

想办法制样截面然后EDS mapping吧，制样估计比较费劲，还得考虑damage的问题

3楼2020-10-31 17:54:51

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