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TEM元素表征分析问题 已有1人参与
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请教各位虫友，通过离子束刻蚀得到有一种“三明治”结构的芯片样品，中间一层成份为铊元素，外面两层为镍元素。 求问如何利用TEM的不同模式考察经过充放电循环后，外面的镍元素层是否渗透至中间的铊元素层。 感谢感谢~ |
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2楼2020-10-31 17:50:46
gxytju2008
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