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请问关于表面粗糙度的横向相关长度是如何通过高度-高度相关函数得到的
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用AFM测样品的粗糙度得到RMS，然后对数据用这个公式：H(r) = <[H(r)-H(0)]2> = 2w2[1-exp(-(r/ξ)2α)]拟合，H(r)表示任一点（x，y）的高度值，H(0)表示参考点的高度值，用ξ来表示横向相关长度。AFM得出原始数据是256*256的矩阵，想问一下怎么把这些数据用上面那个公式拟合呢,原点是怎么选取的呢？想请教一下做过这方面的大佬。 怎么上传不了图片...... |
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