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[求助]
求助----有关金属基复合材料TEM样品的制备
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我使用离子减薄法制备纳米陶瓷颗粒增强金属基复合材料的时候，发现相比基体合金与合金第二相，陶瓷增强相不耐离子辐照。导致即使是在穿孔最边缘的薄区，能观察陶瓷增强相的位置边上的金属基体还非常厚，根本得不到高分辨相与高分辨的界面信息。能观察到金属基体与第二相的位置就完全观察不到陶瓷增强相了。 请问这种情况下能否通过调节离子减薄参数（原参数是4° 4eV 锌基体，大概45分钟-1个半小时穿孔）来制备出可以得到界面高分辨像的样品？还是说这种情况可以通过FIB或者双喷得到优质TEM样品？FIB本身也是离子束减薄是不是最终结果跟离子减薄相似？如果说双喷的话，能否推荐一下适合锌基材料的腐蚀液以及电压与温度。 拜托了，万分感谢 |
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