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关于校正荧光强度（即内滤效应）的计算问题
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各位荧光高手，请教一个关于荧光强度校正的问题，就是对于荧光测试时，常会用到如下的公式对观测到的荧光强度进行校正，但是我对这方面的公式存在以下几个问题。 如下面的公式，Fcor校正的荧光强度是不是通过这个公式计算？ 表1中的Eobsd和Ecor表示的是抑制效率，那么它俩分别怎么计算？  QQ图片20200912161308.png  QQ图片20200912161714.png |
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